設備更新｜掃描電鏡 SEM & 透射電鏡 TEM 離子束製樣設備

2024 年 3 月 1 日，《推動大規模設備更新和消費品以舊換新行動方案》經審議通過。會議指出，推動新一輪大規模設備更新和消費品以舊換新，是著眼於我國高質量發展大局作出的重大決策。同時指出，新一輪換新工作仍堅持標準，更好發揮能耗、排放、技術等標準的牽引作用，智能、綠色、低碳的科研儀器，將成為設備更新的主力軍。

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離子束製樣設備

離子束製樣設備專注於掃描91香蕉视频破解版和透射91香蕉视频破解版的樣品製備。

離子束製樣技術在91香蕉视频破解版樣品製備中扮演著重要角色。對於 SEM 樣品製備，離子束可以用於清潔樣品表麵、去除表麵汙染物、修飾表麵形貌等。而對於 TEM 樣品製備，離子束則可以用於薄片的切割、修剪、薄化等，以製備適合 TEM 觀察的樣品。

Technoorg Linda產品選型

離子研磨儀 SEMPrep2

SEMPrep２ 離子研磨儀用於掃描91香蕉视频破解版樣品無損加工，它通過 Ar 離子束的能量在材料表麵進行微觀改性，從而實現高精度、高效率，無機械損傷的樣品表麵處理，為您呈現最真實的樣品表麵信息。與傳統機械製樣對比有以下優勢：

高精度加工：能夠去除樣品表麵的汙染物、氧化層以及其他不良表麵特征，從而提高樣品表麵的質量和可觀察性。

非破壞性加工：相比於傳統的機械切削或研磨方法，氬離子研磨是一種非接觸性的加工方法，能夠避免因機械接觸而引入的表麵損傷或變形，保持樣品的原始形貌和結構。

微納米級加工：能夠實現對樣品表麵的微納米級加工，精確地去除樣品表麵的雜質或形貌缺陷，從而獲得更清晰、更準確的 SEM 圖像。

表麵清潔度高：能夠有效去除樣品表麵的有機物、氧化物等汙染物，保證樣品表麵的幹淨度和純度，有助於獲得高質量的 SEM 圖像和準確的分析結果。

適用範圍廣泛：可適用於各種類型的 SEM 樣品，包括金屬、半導體、陶瓷、生物樣品等，具有較強的通用性和適用性。

使用離子研磨儀處理後的樣品 SEM 圖片：

氧化鋁陶瓷材料

半導體失效分析

鋰電池正極極片

離子精修儀 Gentle Mill

Gentle Mill 離子精修儀專為最終拋光、精修和改善 FIB 處理後的樣品而設計，非常適合要求樣品無加工痕跡、無任何損傷的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用戶。

通過使用 Gentle Mill 離子精修儀，其配備了能氬離子槍，離子束能量低至 100eV，可把非晶層厚度精修到 1nm 以下，由此工作人員可以撥開非晶層的迷霧，直接獲得樣品的真實信息。

經 Gentle Mill 設備精修後的 PbTiO3 / SrTiO3 界麵 HRTEM 圖像

La2/3-xLi3xTiO3 (LLTO) 樣品去除 FIB 產生的表麵非晶層的完整流程。(a) 30 kV FIB 切割樣品的 HRTEM 照片。(b-d) 連續使用低能氬離子精修後的 HRTEM 結果。圖片中標識了對應的精修參數和非晶層厚度。

離子減薄儀 Unimill

Unimill 離子減薄儀專為快速地製備具備高減薄率的、高質量的 TEM / XTEM 樣品而設計。 即可以使用超高能離子槍進行快速研磨，也可以使用專用的低能離子槍進行最終拋光和精修處理

使用 Unimill 製備，並使用 500V 及 300V 精修後的 Diamond 樣品